粒度測試是通過特定的儀器和方法對粉體粒度特性進行表征的一項實驗工作。不同的應用領域對粉體特性的要求也是不相同的，在所有反映粉體特性的指標中，粒度分布是所有應用領域中最為關注的一項。

粉體粒徑相關概念

在一定尺寸范圍內(nèi)具有特定形狀的幾何體稱為顆粒，大量不同尺寸的顆粒組成的顆粒群即為粉體。顆粒的大小稱為粒度或粒徑，用特定的儀器和方法反映出的不同粒徑顆粒占粉體總量的百分數(shù)就是粒度分布，常用表格法、圖形法和函數(shù)法進行表示。

在粒度分布的指標里，D50是中位徑，表示樣品累計粒度分布數(shù)達到50%所對應的粒徑，物理意義是粒徑大于它和小于它的顆粒各占50%；D97常表示粗端粒度指標，物理意義是粒徑小于它的顆粒占97%。

此外，還有比表面積等關鍵指標，顆粒的粒度越細，比表面積越大，但這種關系并不一定成正比。

粒度測試方法優(yōu)劣

激光法操作簡便，測試速度快、范圍大，重復性和準確性好。但結果受分布模型影響較大，儀器造價較高。

動態(tài)圖像法直觀清晰，拍攝與分析速度快，可測量最大顆粒，也可進行形貌分析，但細顆粒誤差較大，成本較高。靜態(tài)圖像法成本較低，但分析速度慢，無法分析細顆粒。

電鏡法能精確分析納米顆粒和超細顆粒，分辨率高，是表征納米材料粒度的標準方法。但單幅圖像中的顆粒數(shù)少，代表性差，儀器價格昂貴。

光阻法測試速度快，分辨力高，樣品用量少。但進樣系統(tǒng)比較復雜，不適用粒徑<1μm 的樣品。電阻法可測顆粒數(shù)，等效概念明確，準確性好，但不適合超細樣品和寬分布樣品。

沉降法儀器可以連續(xù)運行，價格較低，測試范圍較大。但測試時間較長，操作較復雜，結果易受環(huán)境因素的影響。

篩分法簡單直觀，設備造價低，常用于大于400目的樣品。但不能用于超細樣品，結果受篩孔變形和人為因素的影響較大。

動態(tài)光散射法測試范圍寬、測試速度快，重復性好。但測試寬分布的納米材料誤差較大。

超聲波法可對高濃度漿料進行現(xiàn)場測量，無需取樣。但分辨率較低，準確性和重復性較差，結果易受環(huán)境因素影響。

透氣法可直接測量干粉，可測磁性材料粉體。但只能得到平均粒度值，不能測粒度分布。

埃爾派建有物料試驗車間，試驗專用設備齊全。粉體實驗中心配備有英國馬爾文MS3000激光粒度儀等先進儀器，可根據(jù)客戶需求進行粒度、白度、密度、比表面積、圖像等檢測，還可提供小試、中試、大試甚至1:1來料實驗。實驗內(nèi)容包括各種粉碎、分級、整形、干燥、改性、輸送、除磁等粉體測試，均為后續(xù)研發(fā)、設計、制造提供可靠保障。

物料試驗可通過致電埃爾派客戶服務熱線或填寫官網(wǎng)“物料實驗申請單”進行預約，服務工程師將在24小時內(nèi)與客戶取得聯(lián)系，預約成功后請在約定時間內(nèi)將實驗物料寄往埃爾派粉體實驗中心。